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日本OTSUKA大塚电子智能涂层测厚仪 SM-100S

日期：2025-06-14 21:31

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摘要：日本OTSUKA大塚电子智能涂层测厚仪 SM-100S

智能涂层测厚仪 SM-100 series

高精度便携式薄膜测厚仪

“我无法在我想测量的地方立即测量” “
测量结果因人而异” “
测量精度差” 您在测量薄膜厚度时有过
这样的经历吗？智能涂层测厚仪具有以下功能，可以解决您的问题。

・可带到生产现场的手持式
・任何人都可以使用它，因为它很容易
・即使使用手持式也可以进行高精度测量。
・具有形状的样品也可以进行无损测量。

项目	专业版	标准
型	SM-100P 系列	SM-100S 系列
测量方法	反射光谱法（光学干涉法）
测量薄膜厚度范围^*1	0.1~100μm（单层） 1~100μm（多层）	1~50μm （单层）
多层支持	*多 3 层	1 层
测量可重复性	2.1σ 0.01μm （氧化硅膜 1μm）
测量光斑直径	Φ1mm 以下
测量时间	小于 1 秒
数据输出格式	以文本格式导出到 U 盘
体型	约 138 （W） × 198 （D） × 61 （H）毫米
重量	约 1.1 千克
行驶时间	4 小时或更长时间（测量）
电源电压/电源	AC100-240V/35VA （交流适配器输入）
防护等级	IP30/IK06 防护等级

*1 样品折射率为 1.6 时

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