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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo西南办事处
[使用
ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段]
这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。
新型...
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo技术中心
[使用
ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段]
这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo（办事处）
[使用
ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段]
这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统装置
[使用
ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段]
这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo（技术咨询）
[使用
ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段]
这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。
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日本Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
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日本Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以*高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出*适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
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显微分光膜厚仪 OPTM series日本Otsuka大塚
显微分光膜厚仪 OPTM series
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、**反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有****可针对透明基板去除背面反射，从而达到...
