日本Otsuka大塚光波动场三次元显微镜高速扫描,轻松决定测量位置三次元显微镜藤田（重庆）精密仪器设备有限公司

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MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置

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产品信息

特点

可评价nｍ级的透明的异物・缺陷一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息无需对焦，可高速测量可非破坏・非接触・非侵入的测量可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置

规格

分辨率 x , y	6 9 1n m（一次拍照）、4 8 8 n m（合成）
视野 x , y	7 0 0×7 0 0μm
分辨率 z	10nm（相位差）
视野 z	±700μm
样品尺寸	10 0×8 0×t 2 0 mm（安装通用样品架时）
样品台	微动X Y样品台（自动） X:±10 mm Y：±10 mm 粗动样品台 X：12 9 mm Y：8 5 mm
激光	波长 6 3 8 nm 输出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 对测量样品的照射强度)
尺寸（长×宽×高）mm	本体：5 0 5（W）×6 3 0（D）×4 3 9（H） ± 2 0 m m ※不含P C、附属品
重量	41k g
功耗	本体：2 9 0 VA ※不含P C、附属品

测量案例

将肉眼无法看见的透明薄膜表面可视化・定量化

可以非接触、非破坏性、非侵入性地获得nm级的形状信息。通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。

MINUK海报_20240614_03.jpg

观察透明薄膜内部的填充剂

肉眼无法看到的透明薄膜内部的填充剂，通过一次拍照即可观察到。此外，通过在测量后改变深度方向的焦点，可以识别到各个深度的填充剂。

产品名称：日本Otsuka大塚光波动场三次元显微镜