日本Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统（动态光散乱法（DLS法）测量粒径） ·nanoSAQLA 藤田（重庆）精密仪器设备有限公司

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产品名称：日本Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统（动态光散乱法（DLS法）测量粒径）
产品型号：·nanoSAQLA
产品厂商：日本Otsuka大塚
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简单介绍：

多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA ● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。...

详情介绍：

特长

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的*佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃^*

规格

型号	多检体纳米粒径测量系统
測量原理	动态光散射法（光子相关法）
光源	高功率半导体激光（660nm、70mW） *1
检出器	高感度APD
连续测量	*多5个样品
测量范围	0.6nm ～ 10μm
浓度范围	0.00001 ～ 40% *2
温度范围	0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3
样品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
电压	220V 50/60Hz、250VA
重量	约18 kg
软件	平均粒径解析（累积法解析）
	粒径分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重叠
	逆相关数残差Plot
	粒径监测
	粒径表示范围（0.1 ～ 106 nm）
	分子量计算机能
	21 CFR Part11对应*4
选配	微量样品池（20μL开始対应）、荧光滤光片