日本Otsuka大塚多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA 动态光散射（DLS 方法）的粒度测量装置 藤田（重庆）精密仪器设备有限公司

p1Src=//y3.yzimgs.com/uploads/556281/202535-144538129.jpg?watermark/2/text/6Jek55Sw77yI6YeN5bqG77yJ57K-5a-G5Luq5Zmo6K6-5aSH5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/650/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast