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产品名称：日本Otsuka大塚多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA
产品型号：动态光散射（DLS 方法）的粒度测量装置
产品厂商：日本Otsuka大塚
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简单介绍：

多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA

详情介绍：

多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA

多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA

nanoSAQLA 是一种使用动态光散射（DLS 方法）的粒度测量装置（粒径 0.6 nm ~ 10 μm）。
它配备了各种功能，进一步追求质量控制的需求。
一种新的光学系统，支持从稀释~密集系统到宽浓度范围内的多样品测量，实现实验室中必不可少的轻量化和小型化，以及 1 分钟标准的高速测量。

此外，它是一种新产品，不受浸没，不受污染的影响，标配“5 个样品连续测量”，无需自动进样器。

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产品信息
规范
测量示例

产品信息

动画

特征

使用一个单元轻松连续测量 5 个样品连续测量多个样品，这在没有
自动进样器的情况下很难也可以在不同条件下测量
每个样品。
从稀到浓
标准测量时间为 1 分钟，高速测量自动调整从
密集样品到稀薄样品的*佳测量位置，在约 1 分钟内实现高速测量
配备简单的测量功能（您可以一键开始测量）
简单易懂的软件，无需任何复杂的作
内置非浸入式单元模块，无污染每个单元都是独立的，因此
无污染
配备温度梯度功能，
可轻松设定温度

测量范围（理论值）

粒径：0.6nm~10μm
浓度范围 0.00001~40%
温度范围 0~90°C*

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