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日本Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统（动态光散乱法（DLS法）测量粒径） 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA ● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响...
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日本Otsuka大塚光波动场三次元显微镜 MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置
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日本Otsuka大塚Smart膜厚仪（可携带至现场的手持式） Smart膜厚仪 ● 可携带至现场的手持式 ● 可测量0.1μm单位 ● 具有形状的样品也可非破坏的测量 ● 不论基材材质、可测量其镀膜
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日本Otsuka大塚多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA 多分析物纳米粒径测量系统 nanoSAQLA
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日本Otsuka大塚测量粒度和 zeta 电位的专用设备（技术中心） Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo [使用 ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段] 这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。 新型...
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日本Otsuka大塚Zeta 电位和粒度测量系统 ELSZneoSE NEW Zeta 电位和粒度测量系统 ELSZneoSE NEW
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日本Otsuka大塚Zeta 电位、粒度和分子量测量系统 ELSZneo [使用 ELSZneo 将光散射的物理性能评估到一个新的阶段] 这是 ELSZ 系列的**型号，除了在稀 ~ 浓溶液中测量 zeta 电位和粒度外，还可以进行分子量测量。 作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分辨率。 它还支持颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。 新型...